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    Die Kikuchi-Beugung in Rückstreuung von massiven Kristall- oberflächen ist eine sehr alte Technik [1], sie hat aber erst seit wenigen Jahren unter der Bezeichnung EBSD (Electron BackScatter Diffraction) eine breite Anwendung in den Werkstoff- und Erdwissenschaften gefunden [2, 3]. Wenn ein Elektronenstrahl von einigen tausend Elektronenvolt Energie auf einen Kristall trifft, entsteht ein Beugungsdiagramm (a).

    Typisch für Kikuchi-Diagramme sind schmale Bänder mit einer Winkelbreite des doppelten Braggwinkels (b). Man kann sie sich anschaulich als Schnittlinien der Kosselkegel mit der Registrierebene vorstellen. Die Netzebenen würden in diesem Bild bis zum Leuchtschirm reichen und die Mittellinien der Bänder bilden. Die Bänder schneiden sich in sternförmigen Zonenachsen. Wegen der starken Vorwärtsstreuung liegt das Intensitätsmaximum nahe dem Maximum im Fall von lichtoptischer Reflexion. Um eine ausreichend hohe Intensität zu erhalten, wird im Raster-Elektronenmikroskop (REM) die Probenoberfläche um etwa 60° bis 70° aus der Horizontalen gekippt und das Beugungsdiagramm mit einem Durchsicht-Leuchtschirm registriert. Dahinter steht eine hochempfindliche Digital-Videokamera. Das Beugungsdiagramm umfasst einen Winkelbereich von bis zu etwa ±60°, so dass meist mehrere niedrig indizierte Zonenachsen registriert werden.

    Auf meiner Webseite www.ebsd.info finden Sie auf Englisch eine umfangreiche Einführung in das Arbeitsgebiet.
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    [1]     S. Nishikawa, S. Kikuchi: Diffraction of cathode rays by calcite. Nature 1928, 122, 726
    [2]     A.J. Schwartz, M. Kumar, B.L. Adams (eds.): Electron Backscatter Diffraction in Materials Science. Kluwer Academic/Plenum Press, New York, 2000.
    [3]     A.J. Schwartz, M. Kumar, B.L. Adams, D.P. Field (eds.): Electron Backscatter Diffraction in Materials Science. Springer Science and Business Media, New York, 2009.