EBSD und BKD
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    EBSD hat sich zu einem Standardverfahren der Materialwissenschaften für die Orientierungsmikroskopie und Texturanalyse von kristallinen Festkörpern entwickelt. Die Ergebnisse sind aber nicht immer zufriedenstellend. Es ist oft nicht einfach eine plane Probenoberfläche zu präparieren, ohne dass eine zusätzliche, unerwünschte plastische Verformung eingebracht wird. Die Zuverlässigkeit der Ergebnisse hängen von einer genauen Systemkalibrierung und den Einstellungen der Systemparameter ab. Alle Phasen im untersuchten Probenbereich müssen a priori bekannt sein. Hinweise auf ein unbefriedigendes Ergebnis sind eine große Zahl von Fehlindizierungen, "gesprenkelte" Orientierungsverteilungsbilder und falsche Häufungspunkte in der Orientierungs-Dichtefunktion (ODF) und in den Polfiguren.

    Der Anwender könnte versucht sein, die Orientierungsverteilungsbilder durch Filtern der Orientierungsdaten zu "schönen". Datenfiltern ist jedoch nur zulässig, um einzelne isolierte Bildpunkte zu ersetzen oder um die Textur zu analysieren, beispielsweise als Funktion der Korngröße, der Texturkomponenten, dem Verformungsgrad ("Pattern Quality") oder der Phase. Eine bessere Strategie um unbefriedigende Ergebnisse zu verbessern ist, die Messung unter optimierten Bedingungen zu wiederholen. Wenn aber die Diagramme ausreichend scharf sind, braucht lediglich die Auswertung off-line mit den unbearbeiteten Originaldiagrammen wiederholt zu werden. Man spart sich so eine erneute Messung am REM. Weil konventionelle EBSD-Systeme die aufgenommenen Kikuchi-Diagramme bereits während der Messung am REM on-line auswerten ohne sie zu speichern, kann mit ihnen die Auswertung der Rohdaten der Messsequenz nicht mehr wiederholt werden.

    Die Neuindizierung einer Messsequenz anhand abgespeicherter Hough-Peaks kostet wenig Zeit [1], beispielsweise in Fällen, wenn nicht alle Phasen a priori bekannt waren. Die Bildverarbeitung und die Hough-Transformation könnten jedoch bereits die Daten verfälscht haben, so dass eine zuverlässige neue Auswertung nicht immer garantiert ist.

    [1] S. Wright, D.P. Field, D. Dingley: Advanced software capabilities for automated EBSD. In: A. Schwartz, M. Kumar and B.L. Adams (eds.): Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Kluwer Academic / Plenum Publishers, 2000, Chapter 13, p. 141-152.